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Nueva tecnología para realizar levantamiento topográfico: Sistema de rastreo láser i-site de Maptek

Nueva tecnología para realizar levantamiento topográfico: Sistema de rastreo láser i-site de Maptek . 2000. Publicado en: Minería Chilena, v.20:no.227(2000:May.), 146-147p

CONTENIDO

Nueva tecnología para realizar levantamiento topográfico, ésta corresponde al sistema de rastreo láser I-Site de Maptek. Se entregan las especificaciones técnicas, las aplicaciones y prueba en terreno

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